发明名称 外观检查装置
摘要 一种外观检查装置,能对电子元器件的全部四个侧面进行外观检查。外观检查装置包括:旋转体,分别保持电子元器件的多个支承部隔着间隔安装于该旋转体,该旋转体间歇地旋转,使得被各支承部以侧面(11、11a)沿着旋转方向且侧面(12、12a)中的一方相对于另一方配置于旋转方向上游侧的状态保持的电子元器件依次暂时停止于第一、第二检查位置;光路调节元件b,使暂时停止于第一检查位置的电子元器件的侧面(11a)的外观落在对电子元器件的侧面(11)摄像的第一摄像元件的图像中;光路调节元件d,使暂时停止于第二检查位置的电子元器件的侧面(12a)的外观落在对电子元器件的侧面(12)摄像的第二摄像元件的图像中。
申请公布号 CN104422699A 申请公布日期 2015.03.18
申请号 CN201410283324.0 申请日期 2014.06.23
申请人 上野精机株式会社 发明人 白石一成
分类号 G01N21/892(2006.01)I 主分类号 G01N21/892(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 沈捷
主权项 一种外观检查装置,对包括相对的侧面A、侧面B及相对的侧面C、侧面D在内的俯视观察呈矩形或正方形的电子元器件进行外观检查,其特征在于,包括:旋转体,对所述电子元器件分别进行保持的多个支承部隔着间隔呈圆状地安装于该旋转体,该旋转体间歇地旋转,使得被各所述支承部以所述侧面A、侧面B沿着旋转方向且所述侧面C、侧面D中的一方相对于另一方配置于旋转方向上游侧的状态保持的所述电子元器件依次暂时停止于第一检查位置和第二检查位置中的一方及另一方;第一摄像元件,该第一摄像元件对暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面A进行摄像;光路调节元件b,该光路调节元件b改变光的前进方向,使暂时停止于所述第一检查位置的所述电子元器件的侧面B的外观落在对该电子元器件的侧面A进行摄像的所述第一摄像元件的图像中;第二摄像元件,该第二摄像元件对暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面C进行摄像;以及光路调节元件d,该光路调节元件d改变光的前进方向,使暂时停止于所述第二检查位置的所述电子元器件的侧面D的外观落在对该电子元器件的侧面C进行摄像的所述第二摄像元件的图像中;所述外观检查装置对所述电子元器件的侧面A、侧面B、侧面C、侧面D进行外观检查。
地址 日本福冈县