发明名称 | 晶体振荡器 | ||
摘要 | 本发明提供一种可获得频率的稳定度高的振荡输出的晶体振荡器。本发明构成晶体振荡器,包括:振荡电路,用以使晶体振子振荡;振子用温度检测部,用以对晶体振子所放置的环境的温度进行检测;振子用加热部,为了以晶体振子所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振子用温度检测部的检测温度控制其输出;振荡电路用温度检测部,为了对所述振荡电路所放置的环境的温度进行检测而与振子用温度检测部分开地设置;以及振荡电路用加热部,为了以所述振荡电路所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振荡电路用温度检测部的检测温度,与所述振子用加热部独立地控制其输出。 | ||
申请公布号 | CN104426478A | 申请公布日期 | 2015.03.18 |
申请号 | CN201410421426.4 | 申请日期 | 2014.08.25 |
申请人 | 日本电波工业株式会社 | 发明人 | 依田友也 |
分类号 | H03B5/04(2006.01)I | 主分类号 | H03B5/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 臧建明 |
主权项 | 一种晶体振荡器,其特征在于包括:晶体振子;振荡电路,用以使所述晶体振子振荡;振子用温度检测部,用以对所述晶体振子所放置的环境的温度进行检测;振子用加热部,为了以所述晶体振子所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振子用温度检测部的检测温度控制其输出;振荡电路用温度检测部,为了对所述振荡电路所放置的环境的温度进行检测而与振子用温度检测部分开地设置;以及振荡电路用加热部,为了以所述振荡电路所放置的环境的温度为固定的方式进行补偿,而根据所述振荡电路用温度检测部的检测温度,与所述振子用加热部独立地控制其输出。 | ||
地址 | 日本东京涉谷区笹塚一丁目50番1号笹塚NA大楼 |