发明名称 Method and optoelectronic sensor for determining the presence of an object
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Anwesenheit eines Objektes in einem Überwachungsraum oder einem Teil eines Überwachungsraumes mit einem nach dem Triangulationsprinzip arbeitenden optoelektronischen Sensor. Lichtpulse einer ersten Sendelichtquelle werden in Richtung des Überwachungsraums gesendet. Mit einer zweiten Sendelichtquelle werden aufgeweitete Lichtpulse zeitversetzt zu den Lichtpulsen der ersten Sendelichtquelle in den Überwachungsraum gesendet. Von einem Objekt reflektiertes oder remittiertes Licht wird mit einer Empfängerelementanordnung empfangen, die einen Nahbereichsteil und einen Fernbereichsteil umfasst. Signale von Empfängerelementen des Nahbereichsteils werden mit einem ersten Vorzeichen und Signale von Empfängerelementen des Fernbereichsteils mit einem entgegengesetzten Vorzeichen in einem Multiplikationsschritt multipliziert und in einem Additionsschritt addiert. Das resultierende Summensignal wird mit einem Schwellwert verglichen und das Vergleichsergebnissignal nach einer Mehrbitverarbeitung als Anwesenheitssignal verwendet. Die Signale, die von der Empfängeranordnung während den ersten Sendelichtpulsen empfangen werden und die Signale, die während den Lichtpulsen der zweiten Sendelichtquelle empfangen werden, werden mit Gewichtungsfaktoren gewichtet. Das nach dem Additionsschritt vorliegende Summensignal wird abgetastet und das abgetastete Signal nach dem Gewichtungsschritt mit einem Schwellwert verglichen. Bei einer Änderung einer Beziehung zwischen dem Anwesenheitssignal nach der Mehrbitverarbeitung und dem Vergleichsergebnissignal wird der Betriebszustand der zweiten Sendelichtquelle geändert. Die Erfindung betrifft außerdem einen optoelektronischen Sensor, mit dem das erfindungsgemäße Verfahren durchgeführt werden kann.</p>
申请公布号 EP2848960(A1) 申请公布日期 2015.03.18
申请号 EP20130183878 申请日期 2013.09.11
申请人 SICK AG 发明人 WASLOWSKI, KAI
分类号 G01S7/481 主分类号 G01S7/481
代理机构 代理人
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