发明名称 |
检测红外辐射的器件、系统及读取电阻测辐射热计的方法 |
摘要 |
本发明的目标是一种检测红外辐射的器件、系统及读取电阻测辐射热计的方法,该器件包括电阻成像测辐射热计(140)。根据本发明,该器件包括:测量测辐射热计的对应于照射、环境温度和读取的电信号的给定参考条件的电阻的值相对于测辐射热计的电阻的初始参考值的漂移的测量装置,该初始参考值对应于该给定参考条件,其中,漂移为在该给定参考条件下,测辐射热计的电阻随时间与其初始值的偏离;以及校正漂移效应的校正装置,或者校正电阻的漂移的校正装置。 |
申请公布号 |
CN101676697B |
申请公布日期 |
2015.03.18 |
申请号 |
CN200910166834.9 |
申请日期 |
2009.08.31 |
申请人 |
ULIS股份公司 |
发明人 |
奥利维耶·勒格拉;克里斯托夫·米纳西安 |
分类号 |
G01J5/20(2006.01)I;G01J5/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
李春晖;李德山 |
主权项 |
一种用于检测红外辐射的包括电阻成像测辐射热计的器件,包括:‑测量所述电阻成像测辐射热计的对应于照射、环境温度和读取的电信号的给定参考条件的电阻的值相对于所述电阻成像测辐射热计的电阻的初始参考值的漂移的测量装置,所述初始参考值对应于所述给定参考条件,其中,所述漂移为在所述给定参考条件下,所述电阻成像测辐射热计的电阻随时间与其初始值的偏离;以及‑校正所述漂移的效应的校正装置,或者校正电阻的所述漂移的校正装置。 |
地址 |
法国弗雷沃鲁瓦泽 |