发明名称 绝缘体上硅反向导通横向绝缘栅双极晶体管及其制备方法
摘要 一种SOI RC LIGBT,包括:衬底;隔离氧化层;形成于N型漂移区一端的P+区域;形成于P阱区域的P+发射极区域;形成于P+发射极区域和P阱区域交界处N+发射极区域;形成于N型漂移区远离P+发射极区域一端的集电极区域;设于N型漂移区上的场氧化层;设于场氧化层上的栅氧化层;设于栅氧化层上的多晶硅栅电极;设于栅氧化层上的介质层;设于P+发射极区域上的发射极金属层;设于集电极区域上的集电极金属层。上述SOI RC LIGBT由于在集电极区域设置了N+集电极区域,实现了反向导通能力。N+集电极区域、N型漂移区、和P阱区域构成内置二极管,应用时不需要另外设计反并联二极管单元,节省了芯片面积,同时消除了IGBT与二极管反并联时的寄生参数。
申请公布号 CN104425579A 申请公布日期 2015.03.18
申请号 CN201310383065.4 申请日期 2013.08.28
申请人 无锡华润上华半导体有限公司 发明人 张硕;芮强;王根毅;邓小社
分类号 H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I 主分类号 H01L29/739(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 邓云鹏
主权项 一种绝缘体上的硅反向导通横向绝缘栅双极晶体管,其特征在于,包括:衬底,所述衬底包括依次层叠的P型本体区、埋氧化层、P型埋层和N型漂移区;隔离氧化层,所述N型漂移区和所述P型埋层形成有穿通所述N型漂移区和所述P型埋层的沟槽,所述沟槽的底部为所述埋氧化层,所述隔离氧化层填满所述沟槽,所述隔离氧化层将所述N型漂移区和所述P型埋层隔离为多个硅岛;形成于所述N型漂移区一端的P+区域,所述P+区域延伸至所述P型埋层内;形成于所述N型漂移区一端的P阱区域,所述P阱区域和所述P+区域形成于所述N型漂移区的同一端,所述P阱区域和所述P+区域接触;形成于所述P阱区域的P+发射极区域,所述P+发射极区域和所述P+区域接触;形成于所述P+发射极区域和所述P阱区域交界处N+发射极区域;形成于所述N型漂移区远离所述P+发射极区域一端的集电极区域,所述集电极区域包括P+集电极区域和N+集电极区域,所述N+集电极区域被所述P+集电极区域间隔设置;设于所述N型漂移区上的场氧化层,所述场氧化层覆盖所述N型漂移区和所述集电极区域的一部分;设于所述场氧化层上的栅氧化层,所述栅氧化层覆盖所述场氧化层、所述P阱区域和所述N+发射极区域的一部分;设于所述栅氧化层上的多晶硅栅电极,所述多晶硅栅电极覆盖所述栅氧化层对应所述P阱区域的一端;设于所述栅氧化层上的介质层,所述介质层覆盖所述多晶硅栅电极、N+发射极区域的一部分和所述栅氧化层的一部分;设于所述P+发射极区域上的发射极金属层,所述发射极金属层覆盖所述P+发射极区域和所述N+发射极区域的一部分,所述发射极金属层和所述介质层接触;设于所述集电极区域上的集电极金属层,所述集电极金属层覆盖所述集电极区域和所述栅氧化层的一部分,所述集电极金属层和所述介质层接触。
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