| 发明名称 | 基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上；本发明还公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法。本发明补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白，利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率，可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布，还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。 | ||
| 申请公布号 | CN103105285B | 申请公布日期 | 2015.03.18 |
| 申请号 | CN201310023618.5 | 申请日期 | 2013.01.22 |
| 申请人 | 中国计量学院 | 发明人 | 张淑琴;陈亮;杨润光;金尚忠;杨琳;吴军法;徐珍宝;张林波;徐强;毛世挺 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人 | 吴秉中 |
| 主权项 | 一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），其特征在于：所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上；待测光纤面板（9）设置所述分辨率靶（5）和所述积分球（4）的均匀漫射出口之间；所述聚光镜（3）为石英聚光镜。 | ||
| 地址 | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 | ||