一种元器件测试装置中的探针组、元器件测试装置

摘要

本实用新型公开了一种元器件测试装置中的探针组、元器件测试装置，该元器件测试装置中的探针组包括上探针组和下探针组，上探针组包括上探针；下探针组包括下探针底座、下探针和压紧机构，压紧机构固定在下探针底座上；下探针通过压紧机构固定在下探针底座上。本实用新型中的探针组中对元器件进行测量的探测头为探针，不会对元器件造成损伤，保证了测量精度。而且下探针通过压紧机构固定在下探针底座上，方便对下探针的调整及更换。

主权项

一种元器件测试装置中的探针组，其特征在于，包括上探针组和下探针组，所述上探针组包括上探针；所述下探针组包括下探针底座、下探针和压紧机构，所述压紧机构固定在所述下探针底座上；所述下探针通过所述压紧机构固定在所述下探针底座上。