发明名称 半自动探针台(PT-302II)
摘要 1.本外观设计产品的名称:半自动探针台(PT-302II)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于8英寸半导体晶圆IC芯片的单芯多等级测试。3.本外观设计产品的设计要点:在于产品形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:主视图。
申请公布号 CN303133122S 申请公布日期 2015.03.18
申请号 CN201430280458.8 申请日期 2014.08.08
申请人 深圳市矽电半导体设备有限公司 发明人 康春凤;王胜利
分类号 10-05(9) 主分类号 10-05(9)
代理机构 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人 杨洪龙
主权项
地址 518000 广东省深圳市龙岗中心城清林西路龙城工业园E栋创业大厦二层