发明名称 | 一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具,包括金属柱,在金属柱上部设有圆台形孔,圆台形孔上面为进样口,圆台形孔下面为出样口。使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上,可使样品落在较小的范围内,方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。 | ||
申请公布号 | CN204214709U | 申请公布日期 | 2015.03.18 |
申请号 | CN201420705795.1 | 申请日期 | 2014.11.21 |
申请人 | 江苏博迁新材料有限公司 | 发明人 | 蒋超;彭家斌 |
分类号 | G01N1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人 | 汪旭东 |
主权项 | 一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具,其特征在于:所述工具包括金属柱,在金属柱上部设有圆台形孔,圆台形孔上面为进样口,圆台形孔下面为出样口;所述金属柱下部设有圆形孔,所述圆台形孔下部通至圆形孔上部,圆台形孔与圆形孔组合成一通孔。 | ||
地址 | 223801 江苏省宿迁市宿豫经济开发区华山路109号 |