发明名称 电阻式随机存取存储器及其制造方法
摘要 本公开提供一种半导体结构,其包括导电层和导电层上方的电阻可配置结构。电阻可配置结构包括第一电极、第一电极上方的电阻可配置层以及电阻可配置层上方的第二电极。第一电极具有第一侧壁、第二侧壁以及导电层上的底面。第一侧壁和第二侧壁之间的接合处包括电场增强结构。本公开还提供一种用于制造以上半导体结构的方法,包括:图案化导电层上的硬掩模;在硬掩模周围形成间隔件;去除硬掩模的至少一部分;在间隔件上形成共形电阻可配置层;以及在共形电阻可配置层上形成第二导电层。本公开还提供了一种制造电阻式随机存取存储器(RRAM)的方法。
申请公布号 CN104425716A 申请公布日期 2015.03.18
申请号 CN201410340990.3 申请日期 2014.07.17
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 李伯浩;邹宗成;朱文定
分类号 H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I;G11C13/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种半导体结构,包括:导电层;电阻可配置结构,位于所述导电层上方,所述电阻可配置结构包括:第一电极,包括第一侧壁、第二侧壁以及所述导电层上的底面,其中,所述第一侧壁和所述第二侧壁之间的接合处包括电场增强结构;电阻可配置层,位于所述第一电极上方;以及第二电极,位于所述电阻可配置层上方。
地址 中国台湾新竹