发明名称 Verfahren und Einrichtung zur kontaktlosen Messung des spezifischen Widerstandes von Halbleiterstoffen
摘要
申请公布号 CH474057(A) 申请公布日期 1969.06.15
申请号 CH19680010675 申请日期 1968.07.17
申请人 SAVIN,ANATOLY IVANOVICH;GOLUBEV,ALEXANDER IVANOVICH;LOMAKINA,VALENTINA MIKHAILOVNA 发明人 IVANOVICH SAVIN,ANATOLY;IVANOVICH GOLUBEV,ALEXANDER;MIKHAILOVNA LOMAKINA,VALENTINA
分类号 G01N27/02;(IPC1-7):G01N27/04;G01R27/26 主分类号 G01N27/02
代理机构 代理人
主权项
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