| 摘要 |
Es wird eine Probentemperierkammer für ein Benchtop-Röntgengerät und/oder Röntgenvollschutzgerät beschrieben, die (a) einen ersten Kammerteil (11) und einen zweiten Kammerteil (12), die miteinander verbindbar und zum Bilden einer geschlossenen Kammer eingerichtet sind, (b) einen Probenhalter und (c) eine integrierte Temperiereinrichtung zum Temperieren einer Probe (P), die an dem Probenhalter angebracht ist, aufweist. Es wird ferner ein System zur röntgenstrahl-basierten Analyse einer Probe beschrieben, insbesondere zur Röntgendiffraktionsmessung. |
