发明名称 |
晶片位置检测装置 |
摘要 |
本发明涉及一种晶片位置检测装置。其包括多个检测单元,每个检测单元用以检测其与晶片之间的相对位置关系;晶片位置检测装置根据多个检测单元与晶片的预设标准位置之间的相对位置关系,以及多个检测单元检测的多个检测单元与晶片之间的相对位置关系,判断晶片是否处于晶片的预设标准位置。本发明提供的晶片位置检测装置,其通过每个检测单元检测其与晶片之间的相对位置关系,并结合多个检测单元与晶片的预设标准位置之间的相对位置关系,可以确定晶片是否处于晶片的预设标准位置,使操作人员可以在晶片位置检测装置检测出晶片未处于晶片的预设标准位置时对晶片的位置进行修正,防止晶片在其传输过程中从机械手上脱落。 |
申请公布号 |
CN104425304A |
申请公布日期 |
2015.03.18 |
申请号 |
CN201310407311.5 |
申请日期 |
2013.09.09 |
申请人 |
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
发明人 |
张孟湜 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;H01L21/68(2006.01)I;H01L21/687(2006.01)I;H01L21/677(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;张天舒 |
主权项 |
一种晶片位置检测装置,其特征在于,包括多个检测单元,每个所述检测单元用以检测其与晶片之间的相对位置关系;所述晶片位置检测装置根据所述多个检测单元与所述晶片的预设标准位置之间的相对位置关系,以及所述多个检测单元检测的所述多个检测单元与晶片之间的相对位置关系,判断所述晶片是否处于所述晶片的预设标准位置。 |
地址 |
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号 |