发明名称 |
非挥发性半导体记忆装置 |
摘要 |
本实施形态提供一种提高资料可靠性之非挥发性半导体记忆装置。;实施形态之非挥发性半导体记忆装置之特征在于包括:第1记忆体串,其包含第1记忆胞、第2记忆胞;第1字元线,其连接于上述第1记忆胞之控制闸极;第2字元线,其连接于上述第2记忆胞之控制闸极;及周边电路,其控制资料之写入顺序、资料之读出顺序;且上述周边电路于执行对于上述第1记忆胞之写入顺序或上述读出顺序之情形时,执行对上述第1字元线及上述第2字元线施加正的第1通过电压之不良侦测动作。 |
申请公布号 |
TW201511022 |
申请公布日期 |
2015.03.16 |
申请号 |
TW103106117 |
申请日期 |
2014.02.24 |
申请人 |
东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA |
发明人 |
长富靖 NAGADOMI, YASUSHI |
分类号 |
G11C29/42(2006.01);G11C29/44(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/42(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
陈长文 |
主权项 |
|
地址 |
日本 JP |