发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本实施形态提供一种提高资料可靠性之非挥发性半导体记忆装置。;实施形态之非挥发性半导体记忆装置之特征在于包括:第1记忆体串,其包含第1记忆胞、第2记忆胞;第1字元线,其连接于上述第1记忆胞之控制闸极;第2字元线,其连接于上述第2记忆胞之控制闸极;及周边电路,其控制资料之写入顺序、资料之读出顺序;且上述周边电路于执行对于上述第1记忆胞之写入顺序或上述读出顺序之情形时,执行对上述第1字元线及上述第2字元线施加正的第1通过电压之不良侦测动作。
申请公布号 TW201511022 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103106117 申请日期 2014.02.24
申请人 东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 长富靖 NAGADOMI, YASUSHI
分类号 G11C29/42(2006.01);G11C29/44(2006.01) 主分类号 G11C29/42(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP