发明名称 试料观察装置用之样板作成装置及试料观察装置
摘要 本发明系提供一种技术,针对进行了复数个制程处理之图样,将该些制程处理纳入考量来执行图像处理,藉此适当地作成图像处理用之样板。;利用设计资料来作成图像处理用的样板之试料观察装置用之样板作成装置,具备:记忆部,存储着制程资讯,该制程资讯定义有关复数个制程处理之资讯;及样板作成部,利用制程资讯对设计资料做加工处理,以作成图像处理用的样板。
申请公布号 TW201510938 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103116707 申请日期 2014.05.12
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 小嶋雄树 OJIMA, YUKI;助川茂树 SUKEGAWA, SHIGEKI;安部雄一 ABE, YUICHI;川原敏一 KAWAHARA, TOSHIKAZU;长友渉 NAGATOMO, WATARU;久保真二 KUBO, SHINJI
分类号 G06T7/00(2006.01);G06K9/62(2006.01);G06T11/00(2006.01) 主分类号 G06T7/00(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP