发明名称 切晶带一体型晶圆背面保护膜;DICING TAPE-INTEGRATED WAFER BACK SURFACE PROTECTIVE FILM
摘要 本发明提供一种切晶带一体型晶圆背面保护膜,其包括:一切晶带,其包括一基底材料及一形成于该基底材料上之压敏黏接层;及一晶圆背面保护膜,其系形成于该切晶带之该压敏黏接层上,其中该晶圆背面保护膜经着色。该有色晶圆背面保护膜具有一雷射标记能力为较佳。该切晶带一体型晶圆背面保护膜可适用于一覆晶安装半导体器件。; and a wafer back surface protective film formed on the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing tape, in which the wafer back surface protective film is colored. It is preferable that the colored wafer back surface protective film has a laser marking ability. The dicing tape-integrated wafer back surface protective film can be suitably used for a flip chip-mounted semiconductor device.
申请公布号 TW201511179 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103141665 申请日期 2010.01.29
申请人 日东电工股份有限公司 NITTO DENKO CORPORATION 发明人 高本尚英 TAKAMOTO, NAOHIDE;松村健 MATSUMURA, TAKESHI
分类号 H01L21/78(2006.01);H01L21/68(2006.01);C09J7/02(2006.01);H01L23/544(2006.01) 主分类号 H01L21/78(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP