发明名称 计测装置
摘要 提供一种可轻易地再次利用过去实施图形匹配时所使用之识别面的计测装置。本发明之计测装置,系针对用于判定匹配成功与否的匹配识别面与用于选择演算法的演算法识别面中的至少任一个,赋予固有之识别资讯而事先储存于记忆部,并将识别资讯设成为索引进而读出识别面。
申请公布号 TW201510878 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103116706 申请日期 2014.05.12
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 长友渉 NAGATOMO, WATARU;安部雄一 ABE, YUICHI
分类号 G06K9/62(2006.01);G06T7/00(2006.01) 主分类号 G06K9/62(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP