| 发明名称 |
隔离膜的针孔瑕疵检测系统及其检测方法;SYSTEM FOR DETECTING PINHOLE DEFECT OF SEPARATOR AND METHOD THEREOF |
| 摘要 |
一种用于检测隔离膜的针孔瑕疵检测系统，其包括：一光学摄像装置；一光源；一第一偏光元件，其设置于光源与光学摄像装置之间；一第二偏光元件，其设置于第一偏光元件与光学摄像装置之间；以及一控制模组，用以判断一待检测隔离膜是否具有针孔瑕疵。其中，待检测隔离膜系设置于第一偏光元件与该二偏光元件之间，且第一偏光元件之第一光轴与第二偏光元件之第二光轴的夹角呈90度，以撷取待检测隔离膜的影像。 |
| 申请公布号 |
TW201510513 |
申请公布日期 |
2015.03.16 |
| 申请号 |
TW102132611 |
申请日期 |
2013.09.10 |
| 申请人 |
明基材料股份有限公司 BENQ MATERIALS CORPORATION |
发明人 |
吴佳霖 WU, CHIALING;邱锦勋 CHIU, CHINHSUN;高志远 KAO, CHIHYUAN;陈威仰 CHEN, WEIYANG |
| 分类号 |
G01N21/894(2006.01);H01M10/04(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/894(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财李世章 |
| 主权项 |
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| 地址 |
桃园市龟山区建国东路29号 TW |
