发明名称 |
放射线检测元件基板、放射线检测元件基板的检查装置、放射线检测元件基板的检查方法;RADIATION DETECTION ELEMENT SUBSTRATE, DIAGNOSTIC DEVICE FOR RADIATION DETECTION ELEMENT SUBSTRATE AND DIAGNOSTIC METHOD FOR RADIATION DETECTION ELEMENT SUBSTRATE |
摘要 |
本发明的目的在于提供一种放射线检测元件基板、放射线检测元件基板的检查装置、及放射线检测元件基板的检查方法,无须对1个画素中具有1个电晶体的放射线检测元件基板的检查用的检查装置进行大的追加变更,便可进行1个画素中具有多个电晶体的放射线检测元件基板的检查。将控制配线M延长至安装基板更外侧的区域为止,并设置相互接线的检查用连接配线部。并且,对连接于检查用连接配线部的接线端子统一施加闸极断开电压,以进行导通检查。 |
申请公布号 |
TW201510556 |
申请公布日期 |
2015.03.16 |
申请号 |
TW103125028 |
申请日期 |
2014.07.22 |
申请人 |
富士软片股份有限公司 FUJIFILM CORPORATION |
发明人 |
伊藤孝明 ITO, TAKAAKI;冈田美広 OKADA, YOSHIHIRO |
分类号 |
G01T1/16(2006.01);H04N5/32(2006.01);H04N5/369(2011.01) |
主分类号 |
G01T1/16(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
叶璟宗郑婷文詹富闵 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |