发明名称 缺陷检查方法
摘要 提供可高准确度对于裂痕等之缺陷进行检测的缺陷检查方法。缺陷检查方法系包含获得摄像影像之程序,对于此摄像影像从复数方向进行扫描,而关于此等之扫描方向针对各像素M在其亮度低于扫描方向的两侧之第1邻接像素K、O且正交于扫描方向的两侧之第2邻接像素C、W的亮度低于扫描方向的两侧之第3邻接像素A、E及U、Y之情况下,赋予高评估值。基于此各像素之评估值,而按各扫描方向对于选拔像素进行选拔,接着按各扫描方向进行对于选拔像素之连结。将经过连结程序的像素之中从既定形状偏离之像素除掉。
申请公布号 TW201510515 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103118815 申请日期 2014.05.29
申请人 东京威尔斯股份有限公司 TOKYO WELD CO., LTD. 发明人 横山嘉彦 YOKOYAMA, YOSHIHIKO
分类号 G01N21/956(2006.01) 主分类号 G01N21/956(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP