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发明名称
缺陷检查方法
摘要
提供可高准确度对于裂痕等之缺陷进行检测的缺陷检查方法。缺陷检查方法系包含获得摄像影像之程序,对于此摄像影像从复数方向进行扫描,而关于此等之扫描方向针对各像素M在其亮度低于扫描方向的两侧之第1邻接像素K、O且正交于扫描方向的两侧之第2邻接像素C、W的亮度低于扫描方向的两侧之第3邻接像素A、E及U、Y之情况下,赋予高评估值。基于此各像素之评估值,而按各扫描方向对于选拔像素进行选拔,接着按各扫描方向进行对于选拔像素之连结。将经过连结程序的像素之中从既定形状偏离之像素除掉。
申请公布号
TW201510515
申请公布日期
2015.03.16
申请号
TW103118815
申请日期
2014.05.29
申请人
东京威尔斯股份有限公司 TOKYO WELD CO., LTD.
发明人
横山嘉彦 YOKOYAMA, YOSHIHIKO
分类号
G01N21/956(2006.01)
主分类号
G01N21/956(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本 JP
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