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发明名称
密封半导体元件及半导体装置之制造方法
摘要
本发明之密封半导体元件之制造方法包括:准备步骤,其系准备配置有半导体元件之支持片材;密封步骤,其系藉由具备剥离层、积层于剥离层下且包含热硬化性树脂之完全硬化前之密封层、及积层于剥离层上且补强剥离层及密封层之补强层的密封片材之密封层于常温下埋设半导体元件而进行密封;加热步骤,其系于密封步骤后加热密封层而使之硬化;及剥离步骤,其系于加热步骤后剥离补强层。
申请公布号
TW201511354
申请公布日期
2015.03.16
申请号
TW103129602
申请日期
2014.08.27
申请人
日东电工股份有限公司 NITTO DENKO CORPORATION
发明人
大薮恭也 OOYABU, YASUNARI;野吕弘司 NORO, HIROSHI;河野广希 KONO, HIROKI
分类号
H01L33/48(2010.01)
主分类号
H01L33/48(2010.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本 JP
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