发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 本揭露提供一种半导体装置,包括:导线,设于基板上;盖层,设于导线之顶面,盖层具有底面低于导线之顶面;第一介电层,设于盖层上;及导孔,接触盖层之顶面,导孔嵌入第一介电层中。本揭露亦提供此半导体装置之制造方法。; a capping layer on a top surface of the conductive line, the capping layer having a bottom surface lower than a top surface of the conductive line; a first dielectric layer over the capping layer; and a conductive via contacting a top surface of the capping layer, the conductive via being embedded in the first dielectric layer. The present disclosure also provides a method for manufacturing the semiconductor device.
申请公布号 TW201511101 申请公布日期 2015.03.16
申请号 TW103115918 申请日期 2014.05.05
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 纪志坚 CHI, CHIH CHIEN;黄鸿仪 HUANG, HUANG YI;童思频 TUNG, SZU PING;谢静华 HSIEH, CHING HUA
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW