发明名称 |
半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
摘要 |
本揭露提供一种半导体装置,包括:导线,设于基板上;盖层,设于导线之顶面,盖层具有底面低于导线之顶面;第一介电层,设于盖层上;及导孔,接触盖层之顶面,导孔嵌入第一介电层中。本揭露亦提供此半导体装置之制造方法。; a capping layer on a top surface of the conductive line, the capping layer having a bottom surface lower than a top surface of the conductive line; a first dielectric layer over the capping layer; and a conductive via contacting a top surface of the capping layer, the conductive via being embedded in the first dielectric layer. The present disclosure also provides a method for manufacturing the semiconductor device. |
申请公布号 |
TW201511101 |
申请公布日期 |
2015.03.16 |
申请号 |
TW103115918 |
申请日期 |
2014.05.05 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. |
发明人 |
纪志坚 CHI, CHIH CHIEN;黄鸿仪 HUANG, HUANG YI;童思频 TUNG, SZU PING;谢静华 HSIEH, CHING HUA |
分类号 |
H01L21/28(2006.01);H01L21/768(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文颜锦顺 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW |