| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Haftzugprüfung einer Beschichtung (9) auf einem Substrat (8) mit wenigstens einem Stempel (1), welcher mit einer Oberfläche der Beschichtung (9) verbunden und dann zusammen mit der Beschichtung (9) unter Auswertung der Maximalkraft abgezogen wird. Das erfindungsgemäße Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Stempel (1) mittels eines Stempelhalters (5) in einer definierten Position zu der Oberfläche der Beschichtung (9) positioniert wird, wonach der wenigstens eine Stempel (1) mit der Oberfläche des Beschichtung (9) verbunden wird, wonach der Stempelhalter (5) entfernt und eine Positionsscheibe (13) um den Stempel (1) positioniert wird, und wonach der Abzug des Stempels (1) mit einer Abziehvorrichtung (21) erfolgt.</p> |
