发明名称 |
Halbleitervorrichtung, Sperrschicht-Feldeffekttransistor und vertikaler Feldeffekttransistor |
摘要 |
Eine Halbleitervorrichtung ist gemäß einer Ausführungsform zumindest teilweise in oder auf einem Substrat angeordnet und umfasst eine Vertiefung, die eine Mesa ausbildet, wobei die Mesa sich entlang einer Richtung in das Substrat zu einer Bodenfläche der Vertiefung erstreckt und ein Halbleitermaterial eines ersten Leitfähigkeitstyps umfasst, wobei das Halbleitermaterial des ersten Leitfähigkeitstyps, das zumindest lokal eine erste Dotiermittelkonzentration umfasst, sich nicht weiter als bis zur Bodenfläche in das Substrat erstreckt. Die Halbleitervorrichtung umfasst zudem eine zumindest teilweise entlang einer Seitenwand der Mesa angeordnete elektrisch leitende Struktur, wobei die elektrisch leitende Struktur mit dem Halbleitermaterial der Mesa einen elektrischen Schottky- oder Schottky-artigen Kontakt ausbildet, wobei das das Halbleitermaterial des ersten Leitfähigkeitstyps umfassende Substrat zumindest lokal entlang einer Projektion der Mesa in das Substrat eine zweite Dotiermittelkonzentration, die sich von der ersten Dotiermittelkonzentration unterscheidet, umfasst. |
申请公布号 |
DE102014113130(A1) |
申请公布日期 |
2015.03.12 |
申请号 |
DE201410113130 |
申请日期 |
2014.09.11 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ESTEVE, ROMAIN;KONRATH, JENS;OUVRARD, CEDRIC;VOERCKEL, ANDREAS;WERNER, WOLFGANG;KUECK, DANIEL;LAFORET, DAVID;RUPP, ROLAND |
分类号 |
H01L29/872;H01L29/78;H01L29/808 |
主分类号 |
H01L29/872 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|