发明名称 |
一种用于计量检定的γ射线辐照装置 |
摘要 |
本实用新型属于放射性剂量监测技术领域,公开了一种用于计量检定的γ射线辐照装置。该装置主要包括外光阑、铅快门、内光阑、散射腔、辅快门及铅屏蔽体,其中外光阑、铅快门、内光阑、辅快门及散射腔位于铅屏蔽体内,外光阑、内光阑及散射腔的几何中心位于同一条轴线上,外光阑与内光阑形成γ射线通过的通道;γ放射源位于散射腔的几何中心位置;辅快门位于散射腔和内光阑之间。该装置具有显著提高安全性、便于维修和更换、降低放射性剂量的优点。 |
申请公布号 |
CN204203471U |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201420687750.6 |
申请日期 |
2014.11.17 |
申请人 |
中国原子能科学研究院 |
发明人 |
高飞 |
分类号 |
G01T1/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/16(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于计量检定的γ射线辐照装置,其特征在于,该装置主要包括外光阑、铅快门、内光阑、散射腔、辅快门及铅屏蔽体,其中外光阑、铅快门、内光阑、辅快门及散射腔位于铅屏蔽体内,外光阑、内光阑及散射腔的几何中心位于同一条轴线上,外光阑与内光阑形成γ射线通过的通道;γ放射源位于散射腔的几何中心位置;辅快门位于散射腔和内光阑之间。 |
地址 |
102413 北京市房山区北京市275信箱65分箱 |