| 主权项 |
一种C型臂半精确滤波反投影断层成像方法，其特征在于成像方法的步骤包括：检测器(4)上的阵元(5)接受X射线源(2)发射的X射线(3)衰减信号；X射线源(2)和检测器(4)绕水平轴线(9)旋转，数据采集系统(11)将阵元(5)获取的X射线(3)衰减信号转换为锥束投影数据；图像重建系统(15)接收锥束投影数据，输入锥束投影数据预处理模块(20)进行预处理；预处理后的投影数据并行输入到偏导数模块Ⅰ(21)、偏导数模块Ⅱ(22)和偏导数模块Ⅲ(23)计算关于不同参数的偏导数；偏导加权模块(24)并行接收相应的偏导数据，进行加权求和，获得投影数据的偏导数g'(λ,u,v)；投影数据的偏导数并行输入到滤波模块Ⅰ(25)、滤波模块Ⅱ(26)和滤波模块Ⅲ(27)分别计算沿三类滤波线的滤波；滤波加权反投影模块(28)并行接收三类滤波数据，进行权重求和，产生反投影数据，再进行沿圆弧轨迹的反投影操作，获得断层图像(29)； 其中，在进行偏导数据沿过圆弧起始端点的临界面与检测器平面的交线进行的希尔伯特滤波<img file="FDA0000621093580000011.GIF" wi="230" he="77" />前，需过端点在检测器上的投影点作斜率为‑1的直线，将位于该直线下方的偏导数据g'(λ,u,v)乘以‑1，获得修正后偏导数据g'<sub>s</sub>(λ,u,v)，g'<sub>s</sub>(λ,u,v)沿纵向或横向坐标方向进行重采样获得横向修正后偏导数据g'<sub>sh</sub>(λ,u,v)或纵向修正后偏导数据为g'<sub>sv</sub>(λ,u,v)，再进行希尔伯特滤波，得到<img file="FDA0000621093580000012.GIF" wi="252" he="78" />其值为：<img file="FDA0000621093580000013.GIF" wi="1668" he="153" />其中：k<sub>1</sub>和k<sub>2</sub>取值只能是0或1且k<sub>1</sub>和k<sub>2</sub>异或值为1；在于在进行偏导数据沿过圆弧终止端点的临界面与检测器平面的交线进行的希尔伯特滤波<img file="FDA0000621093580000014.GIF" wi="222" he="78" />前，需过端点在检测器上的投影点作斜率为‑1的直线，将位于该直线下方的偏导数据g'(λ,u,v)乘以‑1，获得修正后偏导数据g'<sub>e</sub>(λ,u,v)，g'<sub>e</sub>(λ,u,v)沿纵向或横向坐标方向进行重采样获得横向修正后偏导数据g'<sub>eh</sub>(λ,u,v)或纵向修正后偏导数据为g'<sub>ev</sub>(λ,u,v)，再进行希尔伯特滤波，得到<img file="FDA0000621093580000015.GIF" wi="250" he="83" />其值为：<img file="FDA0000621093580000021.GIF" wi="1641" he="156" />其中：k<sub>1</sub>和k<sub>2</sub>取值只能是0或1且k<sub>1</sub>和k<sub>2</sub>异或值为1。 |
