发明名称 探针测试被测物对位器改良结构
摘要
申请公布号 TWM497340 申请公布日期 2015.03.11
申请号 TW103216735 申请日期 2014.09.19
申请人 连进科技股份有限公司 发明人 李万福
分类号 H01L21/66;G01R1/073;G06F3/041 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项 一种探针测试被测物对位器改良结构,尤指提供具导接线之被测物量测者,其包括:至少一连接座,于其另端设有至少一连接埠,该连接埠连接设有延伸至其一端之多数导线;至少一探座,系设于连接座之一端,该探座包含有呈相对应呈上、下排列之一上探座及一下探座,该上探座及下探座于其一端设有一凹槽且于其内侧具有内侧切边,又上探座及下探座邻设于凹槽其内端设有多数之透孔;多数探针,系设于探座其上、下探座之透孔,该探针之上、下侧针头并凸出于探座其上、下探座,且探针之上侧针头连接于连接座其一端之多数导线,而探针之下侧针头则对应被测物之导接线。
地址 新北市新庄区新北大道3段7号10楼之2