发明名称 |
C12A7电子化合物的薄膜的制造方法及C12A7电子化合物的薄膜 |
摘要 |
一种C12A7电子化合物的薄膜的制造方法,其特征在于,使用电子密度为2.0×10<sup>18</sup>cm<sup>-3</sup>~2.3×10<sup>21</sup>cm<sup>-3</sup>的结晶质C12A7电子化合物的靶,在低氧分压的气氛下利用气相蒸镀法在基板上进行成膜,由此形成非晶质C12A7电子化合物的薄膜。 |
申请公布号 |
CN104411860A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201380032070.9 |
申请日期 |
2013.06.19 |
申请人 |
国立大学法人东京工业大学;旭硝子株式会社 |
发明人 |
细野秀雄;户田喜丈;林克郎;伊藤节郎;渡边晓;宫川直通;渡边俊成;伊藤和弘 |
分类号 |
C23C14/08(2006.01)I;C04B35/00(2006.01)I;C04B35/10(2006.01)I;H01L51/50(2006.01)I;H05B33/02(2006.01)I;H05B33/26(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/08(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
于洁;王海川 |
主权项 |
一种C12A7电子化合物的薄膜的制造方法,其特征在于,使用电子密度为2.0×10<sup>18</sup>cm<sup>‑3</sup>~2.3×10<sup>21</sup>cm<sup>‑3</sup>的结晶质C12A7电子化合物的靶,在低氧分压的气氛下利用气相蒸镀法在基板上进行成膜,由此形成非晶质C12A7电子化合物的薄膜。 |
地址 |
日本东京都 |