发明名称 形成半导体装置的方法
摘要
申请公布号 TWI476698 申请公布日期 2015.03.11
申请号 TW099109429 申请日期 2003.12.17
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 高山彻;丸山纯矢;后藤裕吾;大野由美子;秋叶麻衣
分类号 G06K19/07;H01L21/02;H01L21/60 主分类号 G06K19/07
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种形成半导体装置的方法,包含以下步骤:形成金属膜于基板上;藉由产生电浆使该金属膜一表面氧化而形成金属氧化膜于该金属膜上;形成氧化膜于该金属氧化膜上;形成底膜于该氧化膜上;形成半导体膜于该底膜上;形成包含部分该半导体膜之一积体电路于该底膜上;以及藉由一物理手段使该积体电路及该底膜自该金属氧化膜内侧或位于该金属氧化膜介面之该基板剥离。
地址 日本
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