发明名称 |
基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法 |
摘要 |
本发明提供了一种基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法,属于光纤萨格奈克干涉仪技术领域。本方法首先关闭光纤萨格奈克干涉仪中的温度闭环调整,通过手动调整温度补偿值使得温漂产生的电压差为零;然后打开光纤萨格奈克干涉仪中的温度闭环调整,测量不同温度下的补偿值A;再通过线性拟合方法获取温度T和补偿值A的线性关系;最后利用得到的线性关系式计算实际温度。本发明基于光纤萨格奈克干涉仪的原有结构,不需要添加额外的温度敏感器件,即可测量光纤萨格奈克干涉仪的温度,且测量范围大,敏感性高,既有较高的可靠性,也降低了光纤萨格奈克干涉仪整体的体积和功耗。 |
申请公布号 |
CN104406714A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201410693600.0 |
申请日期 |
2014.11.26 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
金靖;黄云龙;滕飞;徐小斌;宋镜明 |
分类号 |
G01K11/32(2006.01)I |
主分类号 |
G01K11/32(2006.01)I |
代理机构 |
北京永创新实专利事务所 11121 |
代理人 |
祗志洁 |
主权项 |
一种基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:关闭光纤萨格奈克干涉仪中信号处理装置对温度的闭环调整,通过手动调整温度补偿值使得温漂产生的电压差为零,此时获得温度补偿的初始值A<sub>0</sub>;步骤2:打开光纤萨格奈克干涉仪中信号处理装置对温度的闭环调整,测量不同温度T下的补偿值A,其中A=A<sub>0</sub>+ΔA;ΔA为温度补偿的漂移量,由信号处理装置中的温度漂移解调单元计算得到;步骤3:温度T和补偿值A的关系表达为:T=k·A+b,k和b为实数;利用步骤2得到的温度T和补偿值A,通过线性拟合方法获得k和b;步骤4:应用时,将得到的补偿值A代入已知k和b的公式T=k·A+b中,获得实际温度T。 |
地址 |
100191 北京市海淀区学院路37号 |