发明名称 自动分析装置
摘要 本发明提供自动分析装置,其具备检测散射光的光检测器,并且通过减少噪声分量的影响来得到可靠性高的分析结果。在浓度运算前,推算多个光检测器所检测到的散射光的相关性,利用相关高的散射光来进行浓度分析,从而能够进行噪声分量的影响少的、可靠性高的浓度分析。
申请公布号 CN102947690B 申请公布日期 2015.03.11
申请号 CN201180030416.2 申请日期 2011.06.13
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 芝正树;田村太久夫;足立作一郎
分类号 G01N21/51(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/51(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 丁文蕴;李延虎
主权项 一种自动分析装置,其具备向测定对象照射光从而产生散射光的光源、从多个测定方向对来自该测定对象的散射光的光量进行测定的多个光检测器、以及取得由上述光检测器所测定的散射光量的数据并进行处理的计算机,该自动分析装置的特征在于,上述计算机决定上述多个光检测器中作为基准的光检测器,基于上述作为基准的光检测器的输出结果和其它的光检测器的输出结果,求出上述多个测定方向相互间的所测定的上述散射光量的相关系数,并将符合比预先输入到上述计算机中的基准相关系数高的上述相关系数的测定方向的散射光量用于上述测定对象的分析。
地址 日本东京都