| 发明名称 |
包含使用于侦测器系统之基板组合体之物件及包含彼之装置 |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
TWI476390 |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
| 申请号 |
TW097129381 |
申请日期 |
2008.08.01 |
| 申请人 |
通用电机股份有限公司 |
发明人 |
瑞迪斯拉夫 波提瑞罗;史考特 波耶特;葛雷恩 强森;威廉 莫瑞斯;罗纳德 罗辛斯基;安卓 里奇;彼得 米勒;肖才斌 |
| 分类号 |
G01N21/03;G01N30/10 |
主分类号 |
G01N21/03 |
| 代理机构 |
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代理人 |
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼 |
| 主权项 |
一种包含使用于侦测器系统之基板组合体之物件，其包含：经配置以使用于侦测器系统之基板；固定于该基板上或自该基板之一部分整体性地形成之试样容纳结构；延伸遍布基板之光学穿透性测试窗口；固定于该光学穿透性测试窗口之表面且包括一或多种反应性材料之膜，该一或多种反应性材料系经修饰以提供特定之膜性能；及由基板表面所界定且自该试样容纳结构延伸至该测试窗口之流体通道，其中该流体通道系经配置以于一组预定操作条件内控制通过彼之流体的流率。
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| 地址 |
美国 |
