| 发明名称 | Analyzing machine having X-ray | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | USD724214(S1) | 申请公布日期 | 2015.03.10 |
| 申请号 | US201329471850F | 申请日期 | 2013.11.06 |
| 申请人 | Shimadzu Corporation | 发明人 | Ihara Kaoru |
| 分类号 | 24-01 | 主分类号 | 24-01 |
| 代理机构 | Jianq Chyun IP Office | 代理人 | Jianq Chyun IP Office |
| 主权项 | The ornamental design for an analyzing machine having X-ray, as shown and described. | ||
| 地址 | Kyoto JP | ||