| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erfassen von Position und Betriebszustand eines aktiven chirurgischen Instruments, wobei das aktive chirurgische Instrument in einem eingeschalteten Betriebszustand mindestens ein elektromagnetisches Feld emittiert oder beeinflusst/verändert und als Verfahrensschritte das Positionieren eines ersten Sensors zum Erfassen des vom aktiven chirurgischen Instrument in dessen aktiven Betriebszustand ausgehenden oder beeinflussten elektromagnetischen Felds an einer bekannten Position, das Erfassen des von dem aktiven chirurgischen Instrument in dessen aktiven Betriebszustand ausgehenden oder beeinflussten elektromagnetischen Felds mittels des ersten Sensors, das Erzeugen eines Ausgangssignals durch den ersten Sensor, wobei das Ausgangssignal das Erfassen des von dem aktiven chirurgischen Instrument ausgehenden oder beeinflussten elektromagnetischen Felds durch den ersten Sensor anzeigt und das Ermitteln von Position und Betriebszustand des aktiven chirurgischen Instruments auf Basis des Ausgangsignals und der bekannten Position des ersten Sensors enthält. |
