一种⁹⁰Sr的γ能谱分析新方法

摘要

本发明属实验室测量技术领域，特别是涉及一种⁹⁰Sr的γ能谱分析新方法。该方法由以下步骤组成：(1)选择合适厚度的靶材料：所述靶材料为Au或Cu，所述Au可用厚度为0.10-0.12mm，Cu可用厚度为0.01-0.03mm；(2)探测效率刻度：选择步骤一中的靶材料Au或Cu，置于γ探测器端面上方，利用已知活度的⁹⁰Sr体源置于靶材料上方进行测量，得到探测效率ε，其数值为特征X射线能峰计数率与⁹⁰Sr标准源活度比值；(3)样品中⁹⁰Sr测量分析：将待测的⁹⁰Sr样品置于靶材料上方，利用γ探测器测量特征X射线能峰计数N，计算即可得到样品中⁹⁰Sr的活度含量A，A＝N/(ε·t)，其中ε为样品中⁹⁰Sr的探测效率，t为测量时间。本发明主要用于⁹⁰Sr的γ能谱分析领域。

主权项

一种⁹⁰Sr的γ能谱分析新方法，其特征在于：该方法由以下步骤组成：(1)选择合适厚度的靶材料：所述靶材料为Au或Cu，所述Au可用厚度为0.10‑0.12mm，Cu可用厚度为0.01‑0.03mm；(2)探测效率刻度：选择步骤一中的靶材料Au或Cu，置于γ探测器端面上方，利用已知活度的⁹⁰Sr体源置于靶材料上方进行测量，得到探测效率ε，其数值为特征X射线能峰计数率与⁹⁰Sr标准源活度比值；(3)样品中⁹⁰Sr测量分析：将待测的⁹⁰Sr样品置于靶材料上方，利用γ探测器测量特征X射线能峰计数N，计算即可得到样品中⁹⁰Sr的活度含量A，A＝N/(ε·t)，其中ε为样品中⁹⁰Sr的探测效率，t为测量时间。