发明名称 |
一种磁瓦外观检验装置 |
摘要 |
一种磁瓦外观检验装置,包括下底板和上盖板,下底板和上盖板活动连接,上盖板相对于下底板转动;下底板的上表面边缘分别设有上挡板、侧挡板和下挡板,上挡板、侧挡板和下挡板在下底板上表面形成一个“<img file="dest_path_image002.GIF" wi="21" he="16" />”形的磁瓦排列区,上盖板与下底板呈完全打开状态时,以上盖板朝上的表面为上表面,上盖板的上表面设有两条限位筋,限位筋均与侧挡板平行;下底板上还设有锁紧下底板和上盖板的锁紧机构。本实用新型能够显著减少工作量,提高检验效率;同时避免错检、漏检,出错率低。 |
申请公布号 |
CN204188382U |
申请公布日期 |
2015.03.04 |
申请号 |
CN201420667343.9 |
申请日期 |
2014.11.11 |
申请人 |
湖南航天磁电有限责任公司 |
发明人 |
李益安 |
分类号 |
G01M13/00(2006.01)I;B25B11/00(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I |
主分类号 |
G01M13/00(2006.01)I |
代理机构 |
长沙星耀专利事务所 43205 |
代理人 |
舒欣;宁星耀 |
主权项 |
一种磁瓦外观检验装置,其特征在于:包括下底板(9)和上盖板(5),所述下底板(9)和上盖板(5)活动连接,所述上盖板(5)相对于下底板(9)转动;所述下底板(9)的上表面边缘分别设有上挡板(13)、侧挡板(10)和下挡板(7),所述上挡板(13)、侧挡板(10)和下挡板(7)在下底板(9)上表面形成一个“<img file="dest_path_image002.GIF" wi="21" he="16" />”形的磁瓦排列区,所述上盖板(5)与下底板(9)呈完全打开状态时,以上盖板(5)朝上的表面为上表面,所述上盖板(5)的上表面设有两条限位筋(11),限位筋(11)均与侧挡板(10)平行;所述下底板(9)上还设有锁紧下底板(9)和上盖板(5)的锁紧机构(6)。 |
地址 |
410219 湖南省长沙市望城经济开发区金星北路湖南航天科技工业园 |