发明名称 具有阶梯缓冲层结构的4H-SiC金属半导体场效应晶体管
摘要 本发明公开了一种具有阶梯缓冲层结构的4H-SiC金属半导体场效应晶体管,自下而上包括4H‐SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层的两侧分别为源极帽层和漏极帽层,源极帽层和漏极帽层表面分别是源电极和漏电极,N型沟道层上方且靠近源极帽层的一侧形成栅电极,栅电极与源极帽层之间形成凹陷栅源漂移区,栅电极与漏极帽层之间形成凹陷栅漏漂移区,P型缓冲层的上端面靠近源极帽层处设有凹槽,凹槽内靠近漏极帽层一侧设有两个台阶。本发明具有击穿电压稳定,输出漏极电流高的优点。
申请公布号 CN104393047A 申请公布日期 2015.03.04
申请号 CN201410587447.3 申请日期 2014.10.28
申请人 西安电子科技大学 发明人 贾护军;张航;刑鼎
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人 郭官厚
主权项 一种具有阶梯缓冲层结构的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管,自下而上包括4H‐SiC半绝缘衬底(1)、P型缓冲层(2)、N型沟道层(3),N型沟道层(3)的两侧分别为源极帽层(5)和漏极帽层(6),源极帽层(5)和漏极帽层(6)表面分别是源电极(9)和漏电极(10),N型沟道层(3)上方且靠近源极帽层(5)的一侧形成栅电极(4),栅电极(4)与源极帽层(5)之间形成凹陷栅源漂移区(8),栅电极(4)与漏极帽层(6)之间形成凹陷栅漏漂移区(7),其特征在于:所述P型缓冲层(2)的上端面靠近源极帽层(5)处设有凹槽,凹槽内靠近漏极帽层(6)一侧设有两个台阶(11)。 
地址 710071 陕西省西安市太白南路2号