发明名称 |
メモリ回路試験エンジン用の汎用アドレススクランブラ |
摘要 |
<p>【解決手段】 メモリ回路試験エンジン用の汎用アドレススクランブラを提供する。メモリデバイスの実施形態は、結合された複数のメモリ素子のうち1または複数のメモリ素子を有するメモリスタックと、1または複数のメモリ素子について複数の論理アドレスから複数の物理アドレスへのマッピングのための汎用プログラマブルアドレススクランブラを有するビルトインセルフテスト回路と、汎用プログラマブルアドレススクランブラについて複数のプログラミング値を保持する1または複数のレジスタとを備える。【選択図】 図1</p> |
申请公布号 |
JP2015506530(A) |
申请公布日期 |
2015.03.02 |
申请号 |
JP20140550256 |
申请日期 |
2011.12.28 |
申请人 |
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发明人 |
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分类号 |
G11C29/12;G06F12/16;G11C29/10 |
主分类号 |
G11C29/12 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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