发明名称 |
热最佳化相变之记忆体单元及其制造之方法;THERMALLY OPTIMIZED PHASE CHANGE MEMORY CELLS AND METHODS OF FABRICATING THE SAME |
摘要 |
本发明揭示一种热最佳化相变之记忆体单元,其包含安置于第一电极与第二电极之间的一相变材料元件。该第二电极包含具有高于该第一电极之一第一热阻率的一热绝缘区域及内插于该相变材料元件与该热绝缘区域之间的一金属接触区域,其中该金属接触层具有低于该第一热阻率之一第二热阻率。 |
申请公布号 |
TW201508907 |
申请公布日期 |
2015.03.01 |
申请号 |
TW103118302 |
申请日期 |
2014.05.26 |
申请人 |
美光科技公司 MICRON TECHNOLOGY, INC. |
发明人 |
波尼亚迪 马蒂亚 BONIARDI, MATTIA;瑞达里 安德利亚 REDAELLI, ANDREA |
分类号 |
H01L27/24(2006.01);H01L45/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/24(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
美国 US |