发明名称 紧密静电放电保护结构;COMPACT ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) PROTECTION STRUCTURE
摘要 本发明揭示一种紧密静电放电(ESD)保护结构,其包括:一多闸极肖特基空乏型场效应电晶体(FET)、至少一个二极体及两个电阻器。此ESD保护器件结构可系布设于比典型多个二极体ESD器件所需小之一区域中。该多闸极FET可包括各种类型之高电子迁移率电晶体(HEMT)器件,例如,(假晶)pHEMT、(变质)mHEMT、感应HEMT。该肖特基场效应器件之多个闸极系用于形成一ESD触发及电荷汲取路径,以用于依据该ESD保护器件之电路保护。单极性及双极性ESD保护器件两者皆可系提供于一积体电路晶粒上,用于保护其输入/输出电路。
申请公布号 TW201508894 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW103115860 申请日期 2014.05.02
申请人 微晶片科技公司 MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED 发明人 赵 佩明 丹尼尔 CHOW, PEI-MING DANIEL;柯永林 KOK, YON-LIN;朱京 ZHU, JING;谢尔 史蒂文 SCHELL, STEVEN
分类号 H01L23/60(2006.01) 主分类号 H01L23/60(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国 US