发明名称 |
半导体记忆装置 |
摘要 |
本实施形态之半导体记忆装置包含具有复数个记忆胞之记忆胞阵列。复数条字元线系连接于复数个记忆胞。复数条位元线系连接于上述复数个记忆胞之电流路径之一端。感测放大器部于检测连接于字元线中之字元线WLn之记忆胞之资料时重复进行复数次检测动作。控制部根据连接于字元线WLn-1之记忆胞之资料及连接于字元线WLn+1之记忆胞之资料,而选择由复数次检测动作所取得之复数个检测结果中之任一个。 |
申请公布号 |
TW201508763 |
申请公布日期 |
2015.03.01 |
申请号 |
TW102129718 |
申请日期 |
2013.08.19 |
申请人 |
东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA |
发明人 |
原田佳和 HARADA, YOSHIKAZU |
分类号 |
G11C7/12(2006.01);G11C8/08(2006.01) |
主分类号 |
G11C7/12(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |