发明名称 半导体记忆装置
摘要 本实施形态之半导体记忆装置包含具有复数个记忆胞之记忆胞阵列。复数条字元线系连接于复数个记忆胞。复数条位元线系连接于上述复数个记忆胞之电流路径之一端。感测放大器部于检测连接于字元线中之字元线WLn之记忆胞之资料时重复进行复数次检测动作。控制部根据连接于字元线WLn-1之记忆胞之资料及连接于字元线WLn+1之记忆胞之资料,而选择由复数次检测动作所取得之复数个检测结果中之任一个。
申请公布号 TW201508763 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW102129718 申请日期 2013.08.19
申请人 东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 原田佳和 HARADA, YOSHIKAZU
分类号 G11C7/12(2006.01);G11C8/08(2006.01) 主分类号 G11C7/12(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本 JP