发明名称 检测装置;INSPECTING APPARATUS
摘要 本发明涉及电路基板的检测装置,提供了一种能一同检测出电火花和部分放电的结构。恒定电流源向检测物件的配线图形供给恒定的电流。电压测定部测定配线图形的电压。正常时电压斜度算出部,在电压的测定结果中,基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果,获得正常时的电压斜度。判定部,在电压的测定结果中,通过将第一阈值以上且小于第二阈值的范围内的测定结果(斜度恒定期间中的测定结果)与基于上述正常时的电压斜度的电压推算值进行比较,判定所述电压斜度是否恒定。并且,判定部基于电压斜度恒定与否来判定电路基板的不良与否。
申请公布号 TW201508287 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW103128644 申请日期 2014.08.20
申请人 日本电产理德股份有限公司 NIDEC-READ CORPORATION 发明人 笠井淳 KASAI, JUN
分类号 G01R31/02(2006.01);G01R31/12(2006.01);H05K3/00(2006.01) 主分类号 G01R31/02(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP