发明名称 测试控制系统及方法;Test Controlling System and Method
摘要 一种测试控制方法,包括:预设被测设备UUT执行PXE启动时从预设的微系统启动,所述微系统为带有配置扫描功能的作业系统,以扫描获取所述UUT的配置参数;接收所述UUT发送过来配置参数;根据所述UUT的配置参数解析该UUT所需的测试包,该测试包包括用于启动所述UUT的作业系统及用于测试该UUT的测试程式;完成上述解析操作后,设置所述UUT执行PXE启动时从上述解析得出的作业系统下启动;及重启所述UUT,使得该UUT在上述解析得出的作业系统下启动后执行上述解析得出的测试程式。本发明还提供一种测试控制系统,利用本发明可对不同配置的UUT同时进行测试。; receiving the configuration parameter from the UUT; analyzing a test package corresponding to the configuration parameter, the test package comprises an operate system for booting the UUT and a test program for testing the UUT; setting the UUT being start from the operate system when the UUT executes PXE boot; and rebooting the UUT to control the UUT booting from the operate system and performing the test program. The present invention can be used to test different UUTs with different configuration parameters.
申请公布号 TW201508469 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW102132186 申请日期 2013.09.06
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 许金华 XU, JIN-HUA;陈军民 CHEN, JUN-MIN
分类号 G06F11/00(2006.01);G06F9/445(2006.01) 主分类号 G06F11/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW