发明名称 自由基清净装置及方法
摘要
申请公布号 TWI474876 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW100140333 申请日期 2011.11.04
申请人 爱发科股份有限公司 发明人 园田和广;樋口靖;上东俊光;铃木奈央;井上宽扬;石川道夫
分类号 B08B3/04;H01L21/30 主分类号 B08B3/04
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种自由基清净装置,其特征为:系在具备有真空槽之自由基清净装置中,于该真空槽内设置有载置被处理基板之基板支持平台,并且,系具备有:μ波施加手段或高频施加手段;和藉由该μ波施加手段或高频施加手段而使电浆产生之电浆产生室;和被设置在该电浆产生室之下方并且被连接有高频电源之第1喷淋板;和被设置在该第1喷淋板之下的兼作为放电电极之第2喷淋板,在该第1喷淋板之下以及该第2喷淋板之上,系具备有藉由该第1喷淋板和第2喷淋板所区划出之自由基产生室,并构成为:对于该被处理基板进行蚀刻,并以将蚀刻残留生成物除去的方式来进行自由基清净。
地址 日本