| 发明名称 | 测试系统及其对位治具 | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | TWM496909 | 申请公布日期 | 2015.03.01 |
| 申请号 | TW103213896 | 申请日期 | 2014.08.05 |
| 申请人 | 广达电脑股份有限公司 | 发明人 | 吕彦志;江庆丰;周鎭邦;王年正;陈昱勋;徐志明;吴天文;吕彦宏 |
| 分类号 | H05K13/00;G01R31/00 | 主分类号 | H05K13/00 |
| 代理机构 | 代理人 | 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 | |
| 主权项 | 一种测试系统，包含：一测试机台；一第一导线组，电性连接该测试机台，具有一第一可插拔接头；一第二导线组，电性连接至少一受测装置，具有一第二可插拔接头，该第二可插拔接头可插拔地耦接该第一可插拔接头；以及一对位治具，包含：一第一对位模组，用以固持该第一可插拔接头；以及一第二对位模组，可分离地耦接该第一对位模组，用以固持该第二可插拔接头，其中，当该第一对位模组耦接该第二对位模组时，该第一可插拔接头恰与该第二可插拔接头相互耦接，以致该测试机台电性连接该至少一受测装置。 | ||
| 地址 | 桃园市龟山区文化二路188号 | ||