发明名称 |
磁性元件之制造方法、磁性元件之制造装置、及磁性元件 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI475646 |
申请公布日期 |
2015.03.01 |
申请号 |
TW097120390 |
申请日期 |
2008.06.02 |
申请人 |
爱发科股份有限公司 |
发明人 |
今北健一 |
分类号 |
H01L21/8239;H01L21/67;G11C11/15 |
主分类号 |
H01L21/8239 |
代理机构 |
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代理人 |
桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼 |
主权项 |
一种磁性元件之制造方法,系于基板上使含有如下L12有序相之反铁磁性层成膜而制造磁性元件者,上述L12有序相由组成式Mn100-x-Mx(M系选自由Ru、Rh、Ir、Pt构成之群中之至少任一个元素,X满足20(atom%)≦X≦30(atom%))表示,上述磁性元件之制造方法之特征在于具备如下处理:于成膜室配置上述基板;将上述基板加热至350℃;将Kr气体、Xe气体、或Kr气体与Xe气体之混合气体作为溅镀气体并供给至上述成膜室;使上述成膜室之压力减压至0.04~0.1(Pa);于经减压之上述成膜室内,使用上述溅镀气体,对以上述反铁磁性层之构成元素为主成分之靶材,以将对靶材之施加电力密度调整成2.04~2.44(W/cm2)之方式进行溅镀,藉此,将上述反铁磁性层成膜于上述基板上。 |
地址 |
日本 |