谷粒透视器;GRAIN INSPECTION DEVICE

摘要

本发明之目的系在于提供一种谷粒透视器，其不须旋转样品盘，即可检测出所有因谷粒不同而方向互异之粒体龟裂。本发明系为一种谷粒透视器，其从斜下方使光入射至样品盘之透明底面，其特征为具备：一基部构件；一旋转构件，可旋转地配设于该基部构件内，于一侧方具有光源，且设置反射板，将来自该光源之光往该样品盘之底面反射；一盖构件，安装于该基部构件上，与该基部构件共同构成外框，具有位于该旋转构件上方并接受该样品盘之开口部，于该旋转构件，设置用以旋转操作该旋转构件之操作部，且于该外框形成开口，使该操作部经由该开口，从该外框延伸出至外部，且可以该旋转构件之中心为轴摆动。