发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明为一种使用以Ge为主成份的多晶半导体层之半导体装置,其包含有:以Ge为主成份的多晶半导体层;隔着闸极绝缘膜而形成于多晶半导体层上之一部份的闸极电极;及包夹闸极电极而形成于多晶半导体层上且由n型杂质扩散区域构成之一对源极/汲极区域;n型杂质扩散区域具有二种以上杂质,且二种以上杂质地其中一种为选自于硫族元素群组之元素,而另一种为n型杂质。
申请公布号 TW201508922 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW102146379 申请日期 2013.12.16
申请人 东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 小池正浩 KOIKE, MASAHIRO;上牟田雄一 KAMIMUTA, YUUICHI;鎌田善己 KAMATA, YOSHIKI;臼田宏治 USUDA, KOJI;手塚勉 TEZUKA, TSUTOMU
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群陈文郎
主权项
地址 日本 JP