发明名称 |
消除封装应力产生之电压偏差的半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE OF ELIMINATING OFFSET VOLTAGE GENERATED BY ENCAPSULATING STRESS BALANCE |
摘要 |
一种消除封装应力产生之电压偏差的半导体装置,包括一晶粒,具有复数个电路区块(block),且被一封装材包覆于一基板之一表面的一部位; 一量测介面,个别量测该复数个电路区块之一电压以产生一量测结果;一数位介面,接收该量测结果;以及一控制介面,根据该量测结果,选择该复数个电路区块之至少二电路区块,以彼此互相电性连接该至少二电路区块。 |
申请公布号 |
TW201508872 |
申请公布日期 |
2015.03.01 |
申请号 |
TW102130385 |
申请日期 |
2013.08.26 |
申请人 |
奇景光电股份有限公司 HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED |
发明人 |
曾伟凯 TSENG, WEI KAI |
分类号 |
H01L23/28(2006.01);H01L21/66(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈达仁 |
主权项 |
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地址 |
台南市新市区紫楝路26号 TW |