| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung (1) zur optischen Messung von Oberflächeneigenschaften, umfassend zumindest ein Aufnahmeelement (2) zum Aufnehmen und Arretieren eines zu messenden Objekts (3), wobei das Aufnahmeelement (2) eine Ebene (100) definiert und/oder in einer Ebene (100) angeordnet ist, welche durch eine X-Achse (4) und durch eine zur X-Achse (4) senkrecht verlaufende Y-Achse (5) aufgespannt ist, zu-mindest ein Messaufnahmeelement (6) zum Aufnehmen von optischen Informationen, welche von einer Oberfläche (31) des zu messenden Objekts (31) in Richtung des Messaufnahmeelements (6) geführt und/oder reflektiert werden, wobei das Messaufnahmeelement (6) entlang einer senkrecht zur Ebene (100) verlaufenden Z-Achse (7) beabstandet über dem zu messenden Objekt (3) an einer Halterung (8) befestigt ist, wobei das Messaufnahmeelement (6) um eine parallel zur Ebene (100) sich erstreckende B-Verschwenkachse (9) der Halterung (8) schwenkbeweglich angeordnet ist und die Z-Achse (7) zu der B-Verschwenkachse (9) senkrecht verläuft.</p> |
